IM3570,电气阻抗分析仪
主要特点 测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间:0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量 电气阻抗分析仪 详细介绍 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。 基本参数